Rencontre Technique

Rencontre technique Pôle Aquitain de Métrologie : 19 octobre 2017 à  Arts et Métiers Paris Tech de Talence :

Les temps forts du CIM 2017

 L’objectif de cette rencontre technique, organisée conjointement par le Pôle Aquitain de Métrologie et Arts et Métiers Paris Tech  est de présenter les temps forts de du Congrès International de Métrologie, alliant des thématiques très applicatives (mesures dans le domaine pharmaceutique, en nanotechnologie, les incertitudes de mesure…) et des conférences de métrologie fondamentale. La métrologie est en train d’évoluer très vite avec la révision du Système International d’Unités, les mesures de l’infiniment petit et des très grandes dimensions, le développement de nouvelles technologies pour répondre aux attentes de la fabrication additive, l’exploitation du Big Data….

 La présentation des temps forts du Congrès sera réalisée par Bernard LARQUIER (Directeur stratégique de BEA Métrologie)

Cette rencontre nous permettra également d’effectuer une visite au sein des locaux d’Arts et Métiers Paris Tech. Grande Ecole du Campus Universitaire bordelais, il nous sera proposé de visiter les laboratoires de mesure et d’essais thermiques et mécaniques et de découvrir les équipements qui servent à  former les ingénieurs de demain pour pouvoir répondre aux différents défis technologiques

Programme et inscription 

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