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Rencontre Technique

Rencontre technique Pôle Aquitain de Métrologie : 19 octobre 2017 à  Arts et Métiers Paris Tech de Talence :

Les temps forts du CIM 2017

 L’objectif de cette rencontre technique, organisée conjointement par le Pôle Aquitain de Métrologie et Arts et Métiers Paris Tech  est de présenter les temps forts de du Congrès International de Métrologie, alliant des thématiques très applicatives (mesures dans le domaine pharmaceutique, en nanotechnologie, les incertitudes de mesure…) et des conférences de métrologie fondamentale. La métrologie est en train d’évoluer très vite avec la révision du Système International d’Unités, les mesures de l’infiniment petit et des très grandes dimensions, le développement de nouvelles technologies pour répondre aux attentes de la fabrication additive, l’exploitation du Big Data….

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Journée Technique collège français de métrologie

CFM 2017

  Le 16 novembre 2017 à  Paris  

Gestion des instruments de mesure et optimisation des périodicités

Lors de cette journée que nous avons le plaisir d’animer, nous présenterons les informations que l’on peut retirer d’un suivi de cartes de contrôle dans le cadre de la gestion des moyens de mesure. 

www.cfmetrologie.com/fr/journee-technique

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